QYResearch株式会社（所在地：東京都中央区）は、最新の調査資料「ウェーハ欠陥検査装置―グローバル市場シェアとランキング、全体の売上と需要予測、2025～2031」を2025年1月7日より発行しました。本レポートでは、ウェーハ欠陥検査装置の世界市場規模、成長予測、過去データと未来の市場動向を詳細に分析し、業界の主要な推進力、課題、リスク、機会についても包括的に検討します。ウェーハ欠陥検査装置市場は製品別、用途別、地域別に区分し、各セグメントにおける成長要因、機会、課題を掲載しています。さらに、主要企業の売上、市場シェア、競争環境に関する詳細な分析を行っており、企業が市場の変化に迅速に対応し、効果的な戦略を策定するために必要なデータと洞察を提供しています。

市場セグメント分析
ウェーハ欠陥検査装置市場は製品、用途、地域別に分類され、各セグメントの市場規模や成長展望を詳細に分析ています：
製品別：Patterned Wafer Defect Inspection System、Non-patterned Wafer Defect Inspection System、E-beam Wafer Defect Inspection and Classification System、Wafer Macro Defects Detection and Classification、Wafer Inspection System for Advanced Packaging
用途別：300mm Wafer Size、200mm Wafer Size、Others


競合環境分析
世界のウェーハ欠陥検査装置市場の主要企業には、KLA Corporation、Applied Materials、Lasertec、Hitachi High-Tech Corporation、ASML、Onto Innovation、Camtek、SCREEN Semiconductor Solutions、Skyverse Technology、Toray Engineering、NEXTIN、Suzhou TZTEK (Muetec)、Microtronic、Bruker、SMEE、Hangzhou Changchuan Technology、Wuhan Jingce Electronic